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電子產(chǎn)品在研制階段中，經(jīng)過(guò)系統的試驗，要根據暴露出的問(wèn)題作具體分析，靈活應用?？煽啃栽囼炛谐Ｓ玫娜N方法往往是周而復始地循環(huán)，并且一個(gè)循環(huán)比一個(gè)循環(huán)產(chǎn)品的可靠性水平向上增長(cháng)，另外可靠性試驗除通過(guò)系統試驗外，還應根據具體情況通過(guò)氣候環(huán)境試驗、機械環(huán)境試驗和人為正常使用等各方面的試驗來(lái)暴露產(chǎn)品生產(chǎn)的薄弱環(huán)節，進(jìn)行綜合的科學(xué)分析，做相應的改進(jìn)，使得電子產(chǎn)品在設計研制階段對其固有可靠性有進(jìn)一步的提高。
方法：“試驗——改進(jìn)——再試驗”，該方法就是把初步研制的產(chǎn)品，通過(guò)試驗，暴露產(chǎn)品的薄弱環(huán)節，分析產(chǎn)品的失效模式和失效機理，找出問(wèn)題就立即改進(jìn)，然后再試驗證實(shí)所解決的問(wèn)題，使產(chǎn)品的可靠性得到增長(cháng)。這種方法在電子產(chǎn)品的研制階段，通過(guò)系統試驗，暴露出產(chǎn)品薄弱環(huán)節之后，根據具體情況，立即進(jìn)行必要的改進(jìn)是能夠使數顯拉力試驗機產(chǎn)品的可靠性有大幅度的增長(cháng)，這種方法比較適用于試驗中只出現一種比較普遍和嚴重問(wèn)題的情況，針對性較強。 |
